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　　EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起，同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無(wú)論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量力求和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量力求實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案不同的真空室大小和可滿足所有應(yīng)用要求的載物臺(tái)選項(xiàng)-甚至是大型工業(yè)零部件樣品使用LaB6燈絲，能夠得到更優(yōu)的圖像質(zhì)量對(duì)不導(dǎo)電和無(wú)導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色可以配置多種分析探測(cè)器用于滿足各種顯微分析應(yīng)用的需求蔡司電鏡|EVO系列

　　利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件，將佳的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提率。Sigma300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測(cè)器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。樣品均可獲得更精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列落地式掃描電子顯微鏡特點(diǎn)：l用于清晰成像的靈活探測(cè)*利用探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。*利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌

　　CUBE系列臺(tái)式掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，CUBE系列占地面積小，便攜性能好，無(wú)需特殊安裝環(huán)境，用戶可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)SEM設(shè)備，節(jié)約空間成本。中心傾斜對(duì)于3D重構(gòu)功能至關(guān)重要，CUBE系列提供馬達(dá)驅(qū)動(dòng)多功能樣品臺(tái)，可進(jìn)行XYZ運(yùn)動(dòng)切換，方便用戶輕松找到理想檢測(cè)區(qū)域。并且CUBE系列擁有自動(dòng)拍攝功能與圖片自動(dòng)拼接功能，快速獲取所需要的質(zhì)量信息，自動(dòng)化操作減少人為失誤。CUBE系列臺(tái)式掃描電鏡特點(diǎn)：高分辨率,與落地式SEM一樣優(yōu)異高空間利用率和便攜性，易于

　　國(guó)產(chǎn)電鏡|鎢燈絲掃描電子顯微鏡|EM69系列鎢燈絲掃描電鏡產(chǎn)品特點(diǎn)：兼容低真空模塊豐富的自動(dòng)化功能支持定制化選配多功能超大樣品倉(cāng)大視野導(dǎo)航相機(jī)拓展豐富技術(shù)參數(shù)：分辨率——EM6910/6920 SE：3nm@30kV，8nm@3kV； BSE ：4nm@30kV（選配）樣品臺(tái)——EM6910 五軸自動(dòng)中樣品臺(tái)，EM6920 五軸自動(dòng)大樣品臺(tái)加速電壓——EM6910/6920 0.2kV-30kV探測(cè)器——EM6910/6920 二次電子探測(cè)器、半導(dǎo)體四分割背散射探測(cè)器（選配）、紅外 CCD、低真空二次

　　EM80系列場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡_EM8010/8020場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn)：肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍多級(jí)高性能透鏡系統(tǒng)束流穩(wěn)定性高可定制超大樣品倉(cāng)操作簡(jiǎn)便拓展性豐富 性價(jià)比高應(yīng)用領(lǐng)域：材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、環(huán)境科學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域。技術(shù)參數(shù)：分辨率——EM8010/8020 SE 1.5nm@15kV；BSE 3nm@30kV（選配）放大倍數(shù)——EM8010 1x-600000x 光學(xué)放大 1x-100x（選配）EM8020 1x-600000x 光學(xué)放大 1x-100x電子槍——EM8010/

　　場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡EM8100產(chǎn)品特點(diǎn)：亞納米級(jí)分辨率低像差錐形物鏡大束流自動(dòng)化控制系統(tǒng)超大樣品倉(cāng)鏡筒加速技術(shù)場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡EM8100應(yīng)用領(lǐng)域：EM8100高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，采用鏡筒加速技術(shù)、低像差錐形物鏡等全新電子光學(xué)設(shè)計(jì)，能夠在低電壓下實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)的成像效果，對(duì)各類(lèi)材料具有廣泛的適用性，能夠滿足多種科研和工業(yè)領(lǐng)域的測(cè)試需求。場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡EM8100技術(shù)參數(shù)：分辨率——SE 0.9nm@30kV放大倍數(shù)——1x-3000000x，光學(xué)放大1x-100x電子槍——Schottky 肖特基場(chǎng)

　　EM8200超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品特點(diǎn)：新一代低像差物鏡、減速樣品臺(tái)、低壓高分辨成像低噪聲Inlens探測(cè)器自動(dòng)推入式背散射探測(cè)器全新的用戶界面設(shè)計(jì)豐富的軟件測(cè)量功能應(yīng)用領(lǐng)域：EM8200超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，采用全新電子光學(xué)設(shè)計(jì)，基于減速樣品臺(tái)、新一代低像差物鏡、Inlens探測(cè)器等技術(shù)，集成豐富的圖像處理功能，為新能源、半導(dǎo)體等用戶提供全新解決方案。技術(shù)參數(shù)：分辨率——SE 0.8nm@15kV、1.5nm@1kV放大倍數(shù)——1x-1600000x；光學(xué)放大 1x-100x電子槍——Sch

　　隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且重視其采集過(guò)程的時(shí)代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的圖像、大束流分析及長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行的冷場(chǎng)成像技術(shù)，同時(shí)還大大提升了高通量、自動(dòng)數(shù)據(jù)獲取能力。*設(shè)備照片包含選配項(xiàng)。日立場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8600系列特點(diǎn)：★高分辨成像日立的高亮度電子源可力求了即使在低著陸電壓下，也可獲得高分辨的圖像?！锔咭r度的低加速電壓背散射圖像3D NAND截面觀察;在低加速電壓條件下，背散射電子信號(hào)能夠明顯的顯示出氧化硅層和氮化硅

　　SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫(huà)質(zhì)圖像，而且還可以同時(shí)接收多種信號(hào)。此外，它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多優(yōu)異良能。SU7000是一臺(tái)實(shí)現(xiàn)了獲取大量信息的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。接下來(lái)請(qǐng)欣賞SU7000帶來(lái)的多彩世界。*圖為包含選配項(xiàng)的SU7000示意圖日本日立高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU7000核心理念：1.采用優(yōu)的成像技術(shù)SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細(xì)結(jié)構(gòu)等多種檢測(cè)信號(hào)。全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng)，使得裝置可以同時(shí)接收二次

　　電子顯微鏡(EM)品牌進(jìn)口|HITACHI日立掃描電子顯微鏡|SU5000熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡特點(diǎn)：▲高性能電子光學(xué)系統(tǒng)二次電子分辨率: 頂位二次電子探測(cè)器(2.0 nm at 1kV)＊高靈敏度: PD-BSD, 強(qiáng)的低加速電壓性能，低至100 V成像大束流(>200 nA): 便于微區(qū)分析▲性能優(yōu)良?jí)毫勺? 具有優(yōu)異的低真空(10 -300 Pa)成像性能，配備高靈敏度低真空探測(cè)器(UVD)＊開(kāi)倉(cāng)室快速簡(jiǎn)單換樣(大樣品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH)微區(qū)分析: EDS, WDS,

　　日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴(kuò)展性，結(jié)合眾多的自動(dòng)化功能，可發(fā)揮其高性能。SU3900標(biāo)配多功能大樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)大型樣品的觀察。日立電鏡_鎢燈絲掃描電鏡_SU3800/SU3900掃描電子顯微鏡特點(diǎn)：①SU3900標(biāo)配多功能大樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)大型樣品的觀察■樣品臺(tái)可搭載大/重樣品通過(guò)更換樣品提示，可防止由于與樣品的接觸而損壞設(shè)備或樣品選配樣品交換倉(cāng)，可在主樣品倉(cāng)保持真空的狀態(tài)下快速更換樣品，大大提高了工作效率具備樣品臺(tái)移動(dòng)限制解除功能,提高了自由度*紅外CCD探測(cè)器，提高了樣

　　FlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測(cè)器，可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新的用戶界面，具有亮度和對(duì)焦自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP”，這個(gè)功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)直觀的視野移動(dòng)。盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率憑借特的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測(cè)器、低真空檢測(cè)器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時(shí)實(shí)現(xiàn)高的畫(huà)質(zhì)全新的用戶界