PS50型三維表面形貌儀是美國NANOVEA公司推出的一款科研版的三維表面形貌測量設備,采用的白光共聚焦技術,可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復性好的優(yōu)點,該儀器性價比高,可用于取代傳統(tǒng)的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。產品原理:采用白光共聚焦色差技術- 利用白光點光源,光線經過透鏡后產生色差,不同波長的光分開后入射到被測樣品上。- 位于白光光源的對稱位置上的靈敏探測器系統(tǒng)用來接收經被測點漫反射后的光。- 根據準共聚焦原理,探測器系統(tǒng)只能接收到被測物體上單點反射