无码人妻国产一区二区三区,熟女精品视频一区二区三区,亚洲综合在线另类色区奇米,九色综合狠狠综合久久

　　Baty光學(xué)儀器成立于1932年，成立時生產(chǎn)千分表和配備的一些附件。很快，Baty就開始進(jìn)入非接觸式測量領(lǐng)域，并且Baty"Shadowgraph"成為影像儀領(lǐng)域的知名產(chǎn)品。這些產(chǎn)品現(xiàn)在仍然英國蘇克西生產(chǎn)并獲得了英國生產(chǎn)認(rèn)證。Baty光學(xué)儀器于2010年被Bowers寶禾集團(tuán)收購。本頁面展示了多種型號的影像測量儀、投影儀。

　　英國ABERLINK三坐標(biāo)測量機(jī)型號示例：1、AberlinkAzimuth大型三坐標(biāo)測量機(jī)隨著三坐標(biāo)測量機(jī)越來越大，這不僅僅是設(shè)計的標(biāo)準(zhǔn)尺寸變大，結(jié)構(gòu)的剛性更是至關(guān)重要的。機(jī)身重量也必須力求在低限度。Azimuth三坐標(biāo)測量機(jī)不僅僅是Aberlink大測量范圍的三坐標(biāo)測量機(jī)，更是Aberlink憑借二十年多的經(jīng)驗，和研發(fā)技術(shù)，采用新材料技術(shù)之作。Azimuth三坐標(biāo)測量機(jī)的橋式結(jié)構(gòu)采用蜂窩狀鋁合金型材。高剛度為Azimuth提供了性能和速度方面的。對于這樣大小的三坐標(biāo)，Azimuth不僅測量速度快，而且

　　電解測厚儀也稱庫倫測厚。上海鑄金分析儀器有限公司可供應(yīng)多種型號的電解鍍層厚度測量儀。多功能電解測厚儀是結(jié)合國內(nèi)外技術(shù)的金屬鍍層電解測厚儀，具有結(jié)構(gòu)先進(jìn)，性能穩(wěn)定可靠，功能齊全的特點，使用本儀器可以保障用戶單位的產(chǎn)品質(zhì)量，防止原材料的能源的浪費(fèi)，利用本儀器還可以幫助用戶找到適合不同要求的最佳電鍍工藝，是有關(guān)成品廠及電鍍廠適用的儀器。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T4955-2005VS02177：2003；測量原理：儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下

　　日立XRF鍍層測厚儀簡介：日立用于測量鍍層厚度和成分分析的臺式XRF分析儀系列旨在應(yīng)對當(dāng)今電鍍車間和電子元件制造商的挑戰(zhàn)。每臺儀器都包含強(qiáng)大的技術(shù)，可提供準(zhǔn)確和精Q的結(jié)果，堅固耐用，可以應(yīng)對生產(chǎn)或?qū)嶒炇噎h(huán)境中的持續(xù)使用。無論您的挑戰(zhàn)是測量各種形狀和尺寸、應(yīng)對異常大的基材、測量超薄鍍層的微小特征，還是僅僅是您必須在一天內(nèi)完成的分析量，日立XRF鍍層分析儀都能應(yīng)對這些挑戰(zhàn)，幫助您可以減少浪費(fèi)、減少返工并確保離開您工廠的組件具有高質(zhì)量。隨著鍍層變得越來越復(fù)雜，部件越來越小，日立的產(chǎn)品系列旨在應(yīng)對未來的挑戰(zhàn)，為您

　　FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM能量色散X射線熒光光譜儀進(jìn)入自動化測量世界FISCHERSCOPE®X-射線 XDL®和XDLM®光譜儀與 XUL 系列密切相關(guān)。主要組件（例如探測器，X射線管和濾波器組合）是相同的，但兩者有一個區(qū)別：XDL和XDLM設(shè)備是從上到下進(jìn)行測量，這意味著可以方便地分析非平面樣品-復(fù)雜形狀不再是難題！自上而下的測試方式還有另一個優(yōu)點：可以很容易地實現(xiàn)自動測量。 XDL240和XDLM237配備了可編程的樣品臺，

　　金屬表面油膜厚度測試儀|INFRALYTIC紅外油膜測厚儀NG2簡介：作為德國一家中型公司，INFRALYTIC提供針對不尋?；驀?yán)苛環(huán)境下的高質(zhì)量計量C新和解決方案。INFRALYTIC開發(fā)和生產(chǎn)高精度傳感器，用于無接觸、非破壞性和快速化合物識別和定量，尤其適用基于紅外光譜學(xué)下的光學(xué)科技。INFRALYTIC冰傳感器能夠檢測風(fēng)力渦輪機(jī)轉(zhuǎn)子，道路上，結(jié)構(gòu)上以及空調(diào)系統(tǒng)中的結(jié)冰程度。INFRALYTIC的油膜測量儀確定金屬板上的油層厚度。INFRALYTIC的IOS NG代油膜計量器早已成為鈑金生產(chǎn)和加工行業(yè)

　　▲使用激光衍射(ISO 13320:2020)和動態(tài)圖像分析(ISO 13322-2)從0.01到4000微米的粒度和形狀分析▲使用藍(lán)色激光技術(shù)具有出色的亞微米測量能力。能夠解決亞微米范圍內(nèi)的狹窄和多模態(tài)分布▲在粒徑分布中檢測少量的過大或過小的粒徑分布▲同步測量技術(shù)和混合物分布分析。一個分析產(chǎn)生了顆粒大小分布和過30個形態(tài)參數(shù)▲快速測量時間——通常為30秒▲干濕測量模塊之間的快速簡單切換。在不到15秒內(nèi)改變從濕到干模式▲完整的IQ / OQ驗證包符合FDA 21 CFR Part 11指南干濕模塊之間的切

　　AEROTRAC II能應(yīng)用于不同的領(lǐng)域，包括來自噴嘴的液滴、霧化器、殺蟲劑、護(hù)膚液、加濕器、噴霧分離器、粉體涂料和不同的粉體。AEROTRAC II光學(xué)系統(tǒng)的是具有非常寬的測量空間，并且提供多種類型的測量，提供不同的附件以適合不同客戶的應(yīng)用。提供不同類型噴霧器的固定夾具幾種不同夾具適合不同尺寸和形狀的噴霧器，這力求了任何時候都是在同一位置噴霧使用Tempax玻璃皿進(jìn)行濕法測量通過使用Tempax玻璃皿能夠測量漿料的粒徑分布干法測量使用干法分散裝置（PD-10S）噴射粉體，能夠進(jìn)行干法的粒徑分布測量噴霧粒

　　德國Colloid Metrix公司是一家研發(fā)和表征交替特征的儀器公司。在膠體配方分析方面， CMX公司的STABINO，ZETA-CHECK和NANO-FLEX為用戶提供了全新的流動/Zeta電位和粒度的測量方法，同時STABINO配合NANO-FLEX還提供多種滴定功能，可以實現(xiàn)不同PH值, 不同濃度的鹽溶液以及聚電解質(zhì)的溶液體系中顆粒的大小和Zeta電位的變化以及等電點的測量。180DLS的測量原理：激光通過光纖和藍(lán)寶石窗口聚集在樣品上。窗口會反射部分入散光。激光的反射光和散射光在檢測器上被測量。信

　　納米粒度測量——動態(tài)光背散射技術(shù)Zeta電位測量：Microtrac以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究，推出的NANOTRAC WAVE II采用微電場分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，NANOTRAC WAVE II采用的“Y”型光纖探針光路設(shè)計，配置膜電產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需準(zhǔn)確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加

　　NANOTRAC FLEX —— 真正的180 動態(tài)光背散射測量技術(shù)NANOTRAC FLEX的探頭設(shè)計可以實現(xiàn)只需要一滴液體滴在探頭的頂部進(jìn)行測量，這樣測量只需小的樣品量2μl。探頭同時也適合1.5mL Eppendorf 管。對于NANOTRAC FLEX 來說，每個容器都可以用作測量池，不需要任何的比色皿。NANOTRAC FLEX 的探頭設(shè)計可以實現(xiàn)在一個反應(yīng)過程中離線或在線監(jiān)測顆粒的粒徑變化。在反應(yīng)中，分散相通常處于是流動或攪拌中，分散相的運(yùn)動將會掩蓋布朗運(yùn)動，在這種情況下用DLS測量幾乎不可能

　　Microtrac的BLUEWAVE通過利用專門針對球形顆粒的Mie補(bǔ)償理論和專門針對非球形顆粒的Modified Mie計算的原理，為各種應(yīng)用提供準(zhǔn)確、可靠和可重復(fù)的粒度分析。BLUEWAVE針對低于1微米的材料進(jìn)行了優(yōu)化測量。BLUEWAVE測量的粒徑范圍為0.01至2800微米。ISO 13320-1粒度分析–光衍射法|Microtrac激光衍射分析儀|BLUEWAVE粒徑分析儀性能指標(biāo)：三激光，藍(lán)/紅，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)真藍(lán)光激光器（非LED）分別針對球形和非球形材料利用Mie理論補(bǔ)償和修正