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FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM能量色散X射線熒光光譜儀

所屬系列:ZJYQ-XCLYCH-FISCHER

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產(chǎn)品描述
FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM能量色散X射線熒光光譜儀
進(jìn)入自動(dòng)化測(cè)量世界
FISCHERSCOPE®X-射線 XDL®和XDLM®光譜儀與 XUL 系列密切相關(guān)。主要組件(例如探測(cè)器,X射線管和濾波器組合)是相同的,但兩者有一個(gè)區(qū)別:XDL和XDLM設(shè)備是從上到下進(jìn)行測(cè)量,這意味著可以方便地分析非平面樣品-復(fù)雜形狀不再是難題!
自上而下的測(cè)試方式還有另一個(gè)優(yōu)點(diǎn):可以很容易地實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量。 XDL240和XDLM237配備了可編程的樣品臺(tái),非常適合掃描樣品表面。 因此,您可以檢查較大部件上的鍍層厚度,或自動(dòng)逐個(gè)測(cè)量大量的小部件。
與XUL系列一樣,XDLM中的“ M”代表“微聚焦管”。 這意味著這些設(shè)備特別適合分析小樣品。 XDLM的測(cè)量點(diǎn)直徑僅為0.1毫米,非常適合電子行業(yè)。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM能量色散X射線熒光光譜儀特點(diǎn):
?能量色散X射線熒光光譜儀,自動(dòng)進(jìn)行材料自動(dòng)分析和鍍層厚度的無損測(cè)量,采用ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn);
?XDLM的Z小測(cè)量點(diǎn): 0.1毫米; XDL的Z小測(cè)量點(diǎn):約 0.2毫米
?鎢X射線管或鎢微焦點(diǎn)管(XDLM)作為X射線源
?經(jīng)驗(yàn)證可用于快速測(cè)量的比例接收器探測(cè)器
?固定或可更改的準(zhǔn)直器
?固定或可自動(dòng)切換基本濾片
?可選擇手動(dòng)或可編程的XY載物臺(tái);
?開槽箱體設(shè)計(jì)用于測(cè)量大的印刷電路板
?通過攝像頭可輕松固定測(cè)量位置
?經(jīng)過認(rèn)證的QM保護(hù)設(shè)備;
FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM能量色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用:
?電鍍鋅鍍層,例如鐵上的鋅層作為防腐層;
?批量生產(chǎn)零件的系列測(cè)試
?特殊鋼成分的分析,例如 檢測(cè)A4中的鉬含量
?裝飾性鍍鉻層,例如Cr/Ni/Cu/ABS
?測(cè)量印刷電路板上的功能性鍍層,例如Au/Ni/Cu/ PCB或Sn/Cu/PCB
?電子工業(yè)中連接器和觸點(diǎn)上的涂層,如Au/Ni/Cu和Sn/Ni/Cu
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