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帕納科XRF光譜儀Epsilon 4

所屬系列:ZJYQ-GPYQXRF-MalvernPanalytical

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產(chǎn)品描述
快速、準(zhǔn)確的原位元素分析
借助 XRF 光譜儀 Epsilon 3 系列的經(jīng)驗(yàn)打造而成,Epsilon 4 是一款多功能臺(tái)式 XRF 分析儀,廣泛用于從研發(fā)到流程控制等各個(gè)領(lǐng)域中需要從氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行業(yè)細(xì)分市場(chǎng)。 Epsilon 4 將激發(fā)和檢測(cè)技術(shù)與成熟軟件和智能設(shè)計(jì)相結(jié)合,其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光譜儀。
對(duì)于傳統(tǒng)上由 ICP 和 AAS 來(lái)實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜應(yīng)用,這提供了一個(gè)簡(jiǎn)單易行的替代方案。通過(guò)將 XRF 光譜儀放置在線旁邊,嘗試進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)或在線 XRF 監(jiān)控,您的反饋時(shí)間將從幾小時(shí)縮短到幾分鐘。 
Epsilon 4 光譜儀具有高靈活性,適用于廣泛的應(yīng)用, 隨時(shí)準(zhǔn)備為您價(jià)值。
帕納科XRF光譜儀Epsilon 4|能量色散式 X-射線熒光光譜儀|多功能臺(tái)式 XRF 分析儀概述:
◆Epsilon 4 安裝要求簡(jiǎn)單
由于較低的基礎(chǔ)設(shè)施要求,可以將 Epsilon 4 放到過(guò)程中靠近線的廣泛位置。 其高性能使大多數(shù)應(yīng)用能夠在環(huán)境條件下運(yùn)行,從而降低氦氣或真空維護(hù)的成本。
◆越分析的價(jià)值
能量色散式 X-射線熒光光譜儀可分析從碳 (C) 到镅 (Am) 的元素,涵蓋從百萬(wàn)分之一以下到 100 wt% 的濃度。 
將 Omnian 用于無(wú)標(biāo)分析,當(dāng)需要快速分析鑒定時(shí),則使用 FingerPrint 來(lái)進(jìn)行材料測(cè)試,或者使用 Stratos 來(lái)對(duì)涂層、表面層和多層結(jié)構(gòu)進(jìn)行快速、簡(jiǎn)單和非破壞性的分析。 還可以使用支持與 FDA 21 CFR 第 11 部分等法規(guī)合規(guī)的增強(qiáng)的數(shù)據(jù)性,或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新潤(rùn)滑油和使用過(guò)的潤(rùn)滑油。
◆高樣品兼容性
Epsilon 4 對(duì)于不同形態(tài)的樣品都游刃有余,典型樣品如粉末、液 體和固體??梢詰?yīng)用于從水泥到纖維等不同類型產(chǎn)品的元素成分分析。如果沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)可用或樣品種類太多,馬爾文帕納科無(wú)標(biāo)分析解決方案將為您提供快速可靠的分析結(jié)果。
Epsilon 4 是穩(wěn)健、可靠的傳統(tǒng)系統(tǒng)替代方案,已在許多行業(yè)和應(yīng)用領(lǐng)域中得到廣泛應(yīng)用,甚至在輕元素分析為重要的環(huán)境中,包括:水泥、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、RoHS 篩選及定量、石油和石化、聚合物及相關(guān)行業(yè)、玻璃、法醫(yī)學(xué)、制藥、保健產(chǎn)品、環(huán)保、食品和化妝品。
帕納科XRF光譜儀Epsilon 4|能量色散式 X-射線熒光光譜儀|多功能臺(tái)式 XRF 分析儀特點(diǎn):
◆靈活的配置
Epsilon 4 是高度靈活的分析工具,可在 10 瓦版本中用于從研發(fā)到過(guò)程控制等各個(gè)領(lǐng)域的元素分析 (F - Am)。 要實(shí)現(xiàn)更高的樣品處理量或擴(kuò)展的輕元素功能,并且處于更加具有挑戰(zhàn)性的環(huán)境,可以使用 15 瓦版本,甚至可以對(duì)碳、氮和氧進(jìn)行分析。
◆新發(fā)展
Epsilon 4 儀器將射線探測(cè)技術(shù)與分析軟件結(jié)合到了一起。 15 瓦 X 射線管與大電流 (3 mA)、硅漂移探測(cè)器 SDD30 以及緊湊的光路設(shè)計(jì)相結(jié)合,提供了甚至過(guò) 50 瓦功率 EDXRF 系統(tǒng)以及臺(tái)式 WDXRF 系統(tǒng)的分析性能 - 同時(shí)還額外提高了能源利用效率。
◆迅速、靈敏
利用可生成更高強(qiáng)度的硅漂移探測(cè)器技術(shù)實(shí)現(xiàn)迅速測(cè)量。
探測(cè)器電路提供的線性計(jì)數(shù)率可過(guò) 1,500,000 cps(在 50% 的死時(shí)間下),和計(jì)數(shù)率無(wú)關(guān)的分辨率通常高于 135 (eV@300 kcps),可更好地對(duì)鄰近譜線進(jìn)行分離。強(qiáng)有力的探測(cè)性能使得 Epsilon 4 能譜儀越了傳統(tǒng)臺(tái)式儀器,實(shí)現(xiàn)了更快的測(cè)試響應(yīng)和更低的檢出限。 這使得 Epsilon 4 光譜儀能夠以全功率運(yùn)行,因此與傳統(tǒng)的 EDXRF 臺(tái)式儀器相比,實(shí)現(xiàn)了更高的樣品通量。
◆降低氦氣消耗量
Epsilon 4 的高性能使得許多應(yīng)用可以在空氣環(huán)境中運(yùn)行,從而減少了氦氣和真空的使用成本和切換時(shí)間。 在空氣中測(cè)量時(shí),鈉、鎂和鋁的低能量 X 射線光子對(duì)氣壓和溫度變化很。 內(nèi)置溫度和氣壓傳感器可補(bǔ)償這些大氣變化,尋求在各種氣候條件下檢測(cè)的結(jié)果不受影響。
行業(yè)版本:○礦業(yè)和礦產(chǎn)○石油和燃油○潤(rùn)滑油○制藥和化妝品○食品與環(huán)境○建筑材料○聚合物、塑料和油漆

帕納科XRF光譜儀Epsilon 4|能量色散式 X-射線熒光光譜儀|多功能臺(tái)式 XRF 分析儀參考技術(shù)指標(biāo):

樣品處理

X 射線管

檢測(cè)器

軟件

具備 10 個(gè)位置的可移動(dòng)樣品交換器

穩(wěn)定性高的金屬陶瓷側(cè)窗

高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD),通常為 135 eV @ Mn-Kα

通過(guò) Omnian 無(wú)標(biāo)分析解決方案,進(jìn)行元素篩選

光譜儀多可容納直徑 52 毫米(2 英寸)的樣品

50 微米薄鈹窗,對(duì)輕元素高度(Na、Mg、AlSi

大計(jì)數(shù)率 1,500,000 c/s(在 50% 的死時(shí)間下)

通過(guò) FingerPrint 解決方案,進(jìn)行合格/不合格分析

包含自旋器,以提高空氣濾清器分析的準(zhǔn)確性

Ag 陽(yáng) X 射線光管,獲得 P、S Cl 分析的佳性能

薄入探測(cè)器射窗,高靈敏度

在監(jiān)管環(huán)境下,增強(qiáng)數(shù)據(jù)性

大樣品模式大可分析高 10 cm 的較大樣品

用于多層樣品的 Stratos

使用 Oil-Trace,在新潤(rùn)滑油和使用過(guò)的潤(rùn)滑油中對(duì)磨損金屬進(jìn)行靈活校準(zhǔn)

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