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FT-NMT04納米力學性能測試系統(tǒng)

所屬系列:ZJYQ-LXSYYH-Femtotools

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產品描述
FT-NMT04納米力學性能測試系統(tǒng)是一款可在SEM/FIB中對微納米材料和結構的力學性能進行原位、直接而準確測量的納米機器人系統(tǒng)。測試原理是通過微力傳感探針對微納結構施加可控的力,同時采用位移記錄器來測量該結構的形變。從測得的力和形變(應力-應變)曲線可以定量地分析微納米結構的力學性能。通過控制加載力的大小和方向,可實現拉伸、壓縮、斷裂、疲勞和蠕變等各種力學測試。同時,其配備的導電樣品測試平臺可以對微納米結構的電學和力學性能進行同步測試。
  絕大多數的納米力學測試都需要復雜的樣品制備過程。為了使樣品制備簡單化和人性化,FT-NMT04采用能夠感知力的微鑷子和不同形狀的微力傳感探針針尖來實現對微納結構的精確提取、轉移直至將其固定在測試平臺上??偠灾?集合納米操作以及力學-電學性能同步測試功能于一體的FT-NMT04能夠滿足幾乎所有的納米力學測試需求。
FT-NMT04納米力學性能測試系統(tǒng)特點:
△能同時實現SEM/FIB高分辨成像和納米力學性能測試
△五軸(X,Y,Z,旋轉,傾斜)閉環(huán)控制保證樣品和微力傳感探針的對準
△能在SEM/FIB工作距離下實現高分辨成像以及FIB切割和沉積
△能夠通過力和位移兩種控制模式實現各種力學測試,例如拉伸、壓縮、彎曲、剪切、循環(huán)和斷裂測試等
△五軸(X,Y,Z,旋轉,傾斜)位移記錄器實現樣品臺上多樣品的自動測試和掃描
△電性能測試模塊能夠實現力學和電學性能同步測試(樣品座配備6個電極)
△導電的微力傳感探針可有效減少荷電效應
△實現力學性能測試與其他SEM/FIB原位分析手段聯(lián)用,如EDX、EBSD、離子束沉積和切割
△兼容于SEM本身的樣品臺,安裝和卸載快捷方便
△模塊化設計使系統(tǒng)適用于各種形貌樣品的測試需求及各種SEM/FIB配置
△緊湊的外形設計適用于各種全尺寸的SEM/FIB樣品室
△用戶可設計自定義的測試程序和測試模式

FT-NMT04納米力學性能測試系統(tǒng)測試模式:
★微柱壓縮
SEM中的原位微壓縮實驗可以直接觀察測試過程中的塑性變形。
★微懸臂梁測試
使用光刻或FIB制備的微懸臂進行原位彎曲測試,可以深入了解材料在復雜剪切應力和斷裂條件下的性能,從而可以在受控位移下通過應力應變分析直接觀察裂紋路徑。
★微拉伸測試
拉伸測試是評估材料延展性和加工硬化行為的黃金標準。微拉伸測試將該技術擴展到微觀結構尺度,有助于測量各相、晶?;蚪缑娴男阅?。
★使用STEM/EBSD進行同步機械測試
Femtotools SEM納米壓痕儀可進行實時機械測試和顯微鏡檢查(STEM/EBSD/DIC),捕獲晶體演化和力反應。
★納米壓痕
納米壓痕通過將鋒利的尖端壓入材料表面并測量產生壓痕所需的力來評估材料的局部機械行為。
★高溫測試
溫度改變材料的機械性能。在接近目標應用的條件下,這對于評估操作機械性能至關重要。利用精密MEMS加熱實現快速溫度匹配和熱控制,即使在高溫下也能進行穩(wěn)定的測量。
★劃痕測試
劃痕是評估材料附著力、硬度和耐磨性的重要方法——尤其是涂層。
★機械顯微鏡
機械顯微鏡是納米壓痕技術發(fā)展的下一步。它提供了一種強大的新方法,可以使用高速納米壓痕測繪同時表征材料的微觀結構和各種機械性能之間的關系。 
★關聯(lián)機械顯微鏡
關聯(lián)機械顯微鏡將納米壓痕與其他顯微鏡方法結合。各種數據層的集成通過在機械測量中包含元素或晶體分析來實現物相識別。
★應變率控制

時間和溫度一樣,是材料變形的關鍵參數。速度決定主動變形機制。測試期間的應變率控制可實現一致的結果,并允許探索材料從蠕變到沖擊的響應,即便在單個壓痕內也是如此。


FT-NMT04納米力學性能測試系統(tǒng)配件:
01高溫模塊
02劃痕測試模塊
03旋轉臺模塊
04納米拉伸測試芯片
05微力傳感探頭
06兩軸微力探頭
07高溫探頭
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